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KPCA Show 2012 展会通知 |
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我公司将参加定于2012年5
月15日（星期二）至5月17日（周期四）举办的KPCA
Show
2012。在此次展会上，我们将展示可以搭载万能通用治具的电路板检测装置S-REC
M6Ⅱwide
32K
高精度治具等一系列产品。敬请各位莅临
展示内容
・S-REC M6Ⅱwide
32K
・Universal治具
・MEMS/PB治具
・NINJA治具
会场：
KINTEX
展览馆,
韩国京畿道高陽市
会期：
2012年５月15日(星期二)～17日(星期四)
官方网址
：KPCA
Show 2012 （Chinese) |
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FINE TECH JAPAN (International
Touch Panel Technology Expo)
展会通知 |
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我司将于2012年4月11日(星期三)
～
13日（星期五）参加第4届国际触摸屏技术展览会。我们将提供能对应所有最新检测的解决方案，以满足正在迅速扩大的触摸屏市场。
展会期间，我们会现场展示实物以及进行实机操作演示。
真诚期待您的到来。
展示内容
・
触摸屏检测装置 (NRTES Series 实机操作演示）
会场：
东京 Big Sight
会期：
2012年4月11日(星期三)～13日(星期五)
展位：
东6
46-13
官方网址
：请点击下方图标连接。
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CPCA Show 2012
展会通知 |
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我公司将参加定于2012年3月13日（周二）至3月15日（周四）举办的CPCA
Show
2012。在此次展会上，我们将展示可以搭载万能通用治具的电路板检测装置S-REC M6Ⅱwide 32K
高精度治具和测试仪等一系列产品。敬请各位莅临。
主要参展产品
・S-REC M6Ⅱwide
32K
・R-5800i
・MEMS治具
・LSI用Probe
・Ninja治具
・触摸屏检测装置
・LED检测装置
会场：
上海世博展览馆
Shanghai World Expo Exhibition Center
会期：
2012年3月13日（周二）至3月15日（周四）
展台：
P22
大会官网：
http://www.cpcashow.com/index.asp
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Semicon Japan 2011
展会通知 |
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日本电产理德将参展在2011年12月7日(星期三)～9日(星期五)举行的Semicon
Japan 2011展会。本次展会上，我们以【LED检查的业界标准
涵盖从前工序到后工序的的整体方案】为重点，将展示适用于PSS表面形状3D检测，从PSS到Packaging的2D外观检测，LED
Wafer Mask检测等一系列对应LED工程、Vision检测的全方位解决方案。
展示产品
LED wafer
工程用检测装置
・LED
wafer Mask检测装置
・LED
wafer
前工程2D外观检测装置 (PSS/EPI/FAB/Chip)
・LED
PKG (After bonding/After molding) 外观检测装置
・LED
wafer 3D形状检测装置
我们将现场展示实物，真诚期待您的到来。
会场
： Makuhari Messe
会期
： 2011年12月7日 (星期三) ～
9日 (星期五)
展位
： L-03
(Hall
6
下一代技术会馆)
展会网址 ：http://www.semiconjapan.org/en/
(English) |
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TPCA Show
2011
展会通知 |
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2011年11月9日至11月11日将举办TPCA展览会。本次展会，弊社将展出印制电路板检测装置、触摸屏检测装置等产品。期待各相关行业人士光临弊社展位参观指导。
主要的展示内容
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印制电路板检测装置 = STAR REC V5/SR
, STAR REC M6
･
半導體封裝載板 =
GATS-2151 ,
GATS-7750
･
电路板内埋式元件检测对应测试器 = R-5800i
・
治具 =
MEMS Probe治具、NINJA治具
･
触摸屏检测装置 =
NRTES-6351、专用测试器
我们非常期待您的到来。
展会会场：
台北南港展览馆 Taipei
Nangang Exhibition Hall
展览时间：
2011年11月9日(星期三)～11日(星期五)
展示位置：
I724
展会网址：
TPCA
Show 2011 Website
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JPCA Show 2011
参展通知
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我公司将参加展会期为2011年6月1日（周三）至3日（周五）的JPCA
Show 2011。
今年，除了展示我公司最新的检测装置和检查治具以外，我们还将介绍一些适用于急速成长的电子领域的检测方案。比如，触摸屏和LED的检测装置等等。
主要的展示内容
・GATS-7712 / GATS-7721
・STAR REC M6 II WIDE
・新构造检查治具
・R-5800i测试仪
・PSS / EPI Wafe外观检测装置AVIS-5000P
・LED封装外观检测装置iPIS系列
・触摸屏检测装置
我们非常期待您的到来。
会场
：
东京Big Sight
东6馆
会期
： 2011年6月1日（周三）～3日(周五)
展位
： 6S-13＆6T-03
展会网址
：请点击以下网址
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Lighting Japan 2011
展会通知
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我们将在Lighting
Japan 2011 (2011年1月19日至21日)出我公司的产品。
欢迎您来到我方柜台。
会場：Tokyo Big
Sight
会期：2011年1月19日(星期三)～21日(星期五)
柜台：West 1-17
网址：http://www.lightingjapan.jp/lighting/cn/
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Semicon Japan 2010
展会通知
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我们将在Semicon
Japan 2010 (2010年12月1日至3日)出我公司的产品。
欢迎您来到我方柜台。
会場：幕張Makuhari
Messe,Chiba(メッセ)
会期：2010年12月1日(星期三)～3日(星期五)
柜台：东８会馆 NO．8A-404
东６会馆 NO．L-02
网址：http://www.semiconjapan.org/en/index.htm
(English)
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LED Japan 2010
展会通知
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我们将在2010年9月29日（星期三）至10月1日（星期五）举行的LED
Japan2010展会上进行展示。
本次展示内容为：我们将现场展示和视频展示适用于LED制造工程的检测Pass表面形状的3D检测装置，可以检测从PSS到Packaging的2D外观检测装置，以及LED
Wafer Mask检测装置。
非常希望您能亲临现场。
会場：
PACIFICO横浜 展示HallB
日期：2010年9月29日（星期三）~
10月1日（星期五）
展位：
M-09
展示产品：
1.
Photo
Mask/LED Wafer Mask检测装置：MV-1000S
2.
LED
PSS表面形状自动检测装置：NVM-3025
3.
LED工程用2D外观检测装置：AVIS-5000Series
4.
LED包装外观检测装置：iPIS-LWI600
/ LFI600
网址：
http://www.sil-ledjapan.com/index.html
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Semicon Taiwan 2010 展会通知
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我们将在2010年9月8日（星期三）至10日（星期五）在台湾举行的Semicon
Taiwan 2010展会上进行展示。
本次展示内容为：MEMS
探针与LED外观检测装置，触摸屏检测装置的现场演示，视频展示等。
非常希望您能亲临现场。
会场： Taipei
World Trade Center
日期： 2010年9月8日（星期三）~10日（星期五）
展位： #2535
出展製品：MEMS
探针，LED外观检测装置，触摸屏检测装置
网址：
http://www.semicontaiwan.org/SCTAIWAN-CT/index.htm
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2010年度JPCA
SHOW展会通知
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我们将在JPCA
Show 2010
（2010年6月2日至4日）的展会上出展我们的产品。
在本次展会上，我们将出展倍受瞩目的检测C-CSP等小型半导体Package的GATS-7711检测机，并结合下一代MEMS-Probe治具进行现场实机演示。同时还会介绍，针对Embedded的高速性、高机能的下一代检测仪器
【R-5800】等还未被公布的产品。
本次展会中我们还准备了丰富多样的外观检测的解决方法。我们会介绍，针对FC-CSP等Package外观检测的ATI
AVIS-1800plus；可以检测内层板VH的3Ｄdimple检测装置；检测LED
sapphire基板表面形状的NV-2000；针对太阳能电池薄板、晶片的外观检测装置iSolar等等。
我们还会用影像形式展示针对液晶显示器的非接触to非接触的检测装置和触摸屏检测装置，以及可适用于4.5代触摸屏的触摸屏专用检测装置）。
我们非常期待您的到来。
会場：
东京Big
Sight
东4会馆
会期：
2010年6月2日(周三)～4日(周五)
展位：
4H-05
网址：
请点击以下网址
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关于在泰国设立现地法人（子公司）的通知
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本公司此次在泰国设立现地子公司【泰国日本电产理德株式会社】，相关通知具体如下：
子公司的概况
（１）公司名称：NIDEC-READ(THAILAND)CO.,LTD.（泰国日本电产理德株式会社）
（２）公司地址：Ticon-Logistic
Park, M1,1/4,84/4,Moo 9, Tambol, Bangwua, Amphur, Bangpakong,
Chachoengsao,
24180, Thailand
（３）法人代表：董事长
戒田 理夫
（４）主要业务：印制电路板检测装置以及检测治具的制造、销售及其保养、修理
（５）设立日期：2009年9月3日
（６）开业时间：2009年11月（预计）
（７）结算期： 3月31日
（８）注册资本：1千8百万泰铢（约5千万日元）
（９）资本组成：日本电产理德株式会社90％、NC产业株式会社10％
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2009年度TPCA
SHOW展会通知
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2009年10月21日至10月23日将举办TPCA展览会。本次展会，弊社将展出印制电路板检测装置、触摸屏检测装置、以及供LED/太阳能电池使用的外观检测装置等产品。期待各相关行业人士光临弊社展位参观指导。
•展会会场：
台北南港展览馆 Taipei
Nangang Exhibition Hall
•展览时间：
2009年10月21日(星期三)～23日(星期五)
•展示位置：
I-508
•参展产品：
印制电路板检测装置･･･STAR
REC M6, LRM-1000
•
印制电路板检测装置用检测仪･･･R-5700
•
印制电路板检测工具･･･治具ID系统、IG-Maker
/Scan、Realtime4端子検査
•
供LED/太阳能电池使用的外观检查装置･･･NanoView,
iSolar
•
太阳能电池元件检测仪
•
半导体/印制电路板使用的探针
•
触摸屏检测装置
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有关取得LuzCom公司股权（并购）的通知 |
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本公司就此次取得LuzCom公司（以下简称：LuzCom）的股权，并购该公司的相关事宜，作如下通知。
并购后的子公司（LuzCom）概要
(１)公
司 名
称 株式会社LuzCom（http://www.luzcom.jp/）
(２)法
人 代
表 董事长 小岛 袈裟雄
(３)注
册 地 横滨市青叶区
(４)设
立 时
间
2000年11月13日
(５)主
营 业
务 半导体检查所用探针的超微细管的开发、制造及销售
(６)结
算 期
10月31日
(７)从
业 人 数
17名
(８)主
要 事 务 所 公司总部（东京都八王子市）、工厂（福冈县筑后市）
(９)注
册 资
金 100百万日元
(10)已发行股票总数 6,801股
(11)大
股 东 构 成 日本电产理德株式会社（98.8％）
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关于关联公司分立后设立新公司的通知 |
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由我公司出资15%的日本电产机器装置（浙江）有限公司，进行了公司分立手续。分立后，设立了由我公司100%出资的生产型企业-日本电产理德机器装置（浙江）有限公司。
详情如下：
1. 新公司概况：
（１）公司名 ： 日本电产理德机器装置（浙江）有限公司
（２）所在地 ： 中国浙江省平湖市
（３）负责人 ： 总经理 手岛 康男
（４）设立日 ： 2009年4月1日（预定）
（５）业务范围： 检测装置以及检测夹具的生产、销售和维修服务
（６）会计期间： 1月～12月
（７）资本金： 75万美金
（８）资本构成： 本公司100%出资
2. 今后的日程安排（预定）
新公司设立：2009年4月1日
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TPCA show
(台灣電路板、電子組裝與綠色科技國際展覽會) 出展通知 |
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有关CPCA SHOW 2008出展的通知 |
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新开发用于HDI模块基板的处理能力成倍提高的检验器 |
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开发了用于多层基板、增层式基板(ＨＤＩ)的高速分步重复型Ｏpen/Ｌeak检验器“ＳＴＡＲ ＲＥＣ Ｍ6”，处理能力为传统产品的两倍，并于2007年10月上旬开始销售。
“ＳＴＡＲ ＲＥＣ Ｍ6”是在开发半导体封装基板和印刷基板(电子电路基板)用检验装置中积累的高精度测定技术的基础上开发的产品，进一步提高了校准精度、成品率和检验速度，降低了夹具费用，并能与高速检测器组合进行高速4端子检验、LCR内置元件检验，这次我公司充满信心地推出了这款能高效高速地检验多面化、多引脚化、精细化的中小型尺寸主板和模块基板的高精度多裸板检验器。
◆STAR REC M6
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2006年2月,
参加IR展览会 |
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日本电产理德与日本电产集团的另外3家公司于2005年7月，一起在京都府长冈京市成立
本公司于2004年9月，在世界上首次成功地使光探头得以实用化，并开发了用于半导体封装精细间距检测的非接触式检测装置“PHE-1100”及其更新换代产品“PHE-2150”。
