プリント基板検査装置 プリント基板検査装置 (テスター部) 半導体パッケージ検査装置 ファンクションテスター・レーザトリミング装置 光学式・画像検査装置 タッチパネル・液晶・有機EL・PDP 検査装置 特殊テスト関連 特殊テスト関連     電子機器の高性能化に伴い、検査技術も日々多様化しています。日本電産リードは非接触や治具レスといった独自の技術を培い、各種検査技術、検査技法を開発しています。 RIMM基板、デジタルTV基板等の特性インピーダンスを自動測定 高性能高周波ch切換器“Read MPX Unit” 低反射率、安定検査を可能にした“RE3 PROBE” ピン移動式も準備（GATS用※） ※一部搭載できない機種があります。 GATS※用ピン移動式検査ユニット フラミンゴユニットと専用治具のペアリングで低ランニングコスト化と高速検査を両立 試作基板の検査、小ロット基板の検査に最適 特性インピーダンス検査(TDR)仕様も準備 ※一部搭載できない機種があります。 電解メッキ用ショートパターンをカットする前の各パターン間のショート検査が可能 当社独特の検査手法“Sister”搭載 検査エリア（非接触検査面）：50mm 検査ネット別検査方式 基板上面対下面（上面：光プローブ、下面：プローブ接触） 基板下面対下面（プローブ接触） 基板上面対上面（光プローブ） 高速検査：1000テストポイント／秒 光プローブでの検査面は品種毎の治具不要 位置決め精度：±5μm 検査箇所の拡大縮小ができ、ワーク（セラミック基板等）の伸縮に柔軟に対応可能 ・チューナー用信号発生器 ・太陽電池検査装置 ・抵抗測定器 ・リチュウムイオン電池保護回路テスター ・BSチューナ検査器 ・チップコンデンサー特性検査装置 ・磁気ヘッドテスター ・高周波フィルター特性検査装置 ・オーディオICテスター ・LCDセルLEAKテスター ・ビデオシリンダ検査器 ・反強誘電液晶用信号発生器 ・ローカル自動調整器 ・PCB検査装置 ・ダイオードテスター ・パネル面＆PCB面ゴミ取り装置 ・トランジスター絶縁耐圧試験器 ・その他駆動信号発生システム